膜厚儀的優(yōu)點(diǎn)
?膜厚儀的優(yōu)點(diǎn)
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1.測(cè)量數(shù)據(jù)多樣
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可以測(cè)得物體的涂層厚度和um.mil數(shù)據(jù),這是其它型號(hào)膜厚儀所不具備的特點(diǎn)。
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2.測(cè)量迅速
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膜厚儀的測(cè)量過(guò)程非常迅速,因?yàn)樵撛O(shè)備采用了先進(jìn)的渦流結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì),能夠極大程度的提升測(cè)量效率,相比于傳統(tǒng)厚度測(cè)量?jī)x顯得非常輕巧方便。
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3.適用范圍廣
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膜厚儀的適用范圍非常廣泛,從普通家用到工廠的工業(yè)生產(chǎn),在到最后的大學(xué)實(shí)驗(yàn)室和科學(xué)研究所,均可以看到它的身影,由此可見(jiàn)它的使用范圍更加廣泛,能夠作業(yè)的場(chǎng)合也變得更加多樣化。
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山高膜厚儀的使用注意事項(xiàng)
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1.零點(diǎn)校準(zhǔn)
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在每次使用膜厚儀之前需要進(jìn)行光學(xué)校準(zhǔn),因?yàn)橹暗臏y(cè)量參數(shù)會(huì)影響該次對(duì)物體的測(cè)量,零點(diǎn)校準(zhǔn)可以消除前次測(cè)量有參數(shù)的影響,能夠降低測(cè)量的結(jié)果的誤差,使測(cè)量結(jié)果更加精確。
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2.基體厚度不宜過(guò)薄
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在使用膜厚儀對(duì)物體進(jìn)行測(cè)量時(shí)基體不宜過(guò)薄,否則會(huì)極大程度的影響儀器的測(cè)量精度,造成數(shù)據(jù)結(jié)果不準(zhǔn)確,影響測(cè)量過(guò)程的正常進(jìn)行。
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3.物體表面粗糙程度
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對(duì)于被測(cè)物體的表面不宜太過(guò)粗糙,因?yàn)榇植诘谋砻嫒菀滓鹛筋^接觸不到,降低了涂層測(cè)厚儀的測(cè)量精度,造成很大的誤差。所以被測(cè)物體的表面應(yīng)該盡量保持光滑,以保證測(cè)量結(jié)果的精確性。
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溫馨提示:有關(guān)膜厚儀的優(yōu)勢(shì)以及使用注意事項(xiàng)在上面的內(nèi)容中已經(jīng)跟大家做了一個(gè)具體的介紹,更多的詳細(xì)內(nèi)容請(qǐng)隨時(shí)關(guān)注京都玉崎網(wǎng)站的動(dòng)態(tài)。