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首先，電子束與空氣中的分子碰撞，立即衰減消失。因此，電子束的產(chǎn)生和照射必須在真空中進(jìn)行。

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其次，一般光學(xué)系統(tǒng)中使用的玻璃透鏡傳輸電子束，因此為了折射電子束，需要使用施加磁場(chǎng)來聚焦電子束的磁透鏡。

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此類鏡頭的一個(gè)特點(diǎn)是光學(xué)像差較大，為了改善這一點(diǎn)，它們被設(shè)計(jì)成較小的數(shù)值孔徑。這使得電子顯微鏡具有較深的焦深，從而可以進(jìn)行深度的三維觀察。

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標(biāo)準(zhǔn)電子顯微鏡分為兩類：

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1.透射電子顯微鏡 (TEM)

這是一種使電子束穿過樣品并根據(jù)其衰減獲得對(duì)比度的方法。為了使電子束能夠通過，必須將樣品厚度調(diào)整至極薄。電子噴射的強(qiáng)度稱為加速電壓，在300 kV的加速電壓下，波長(zhǎng)極短為0.00197 nm，分辨率也為0.1 nm，與源的尺寸數(shù)量級(jí)材料。換算成最高放大倍數(shù)時(shí)，這是80萬倍，是光學(xué)顯微鏡的800倍，可見高分辨率。透射電子顯微鏡觀察穿過樣品的電子，因此非常適合觀察樣品極小區(qū)域內(nèi)的內(nèi)部結(jié)構(gòu)，例如晶體結(jié)構(gòu)。

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2.掃描電子顯微鏡（SEM）

當(dāng)在真空中用電子束照射材料時(shí)，會(huì)發(fā)射二次電子、反射電子、特征X射線等。掃描電子顯微鏡圖像是通過掃描空間聚焦電子束并根據(jù)二次電子和背散射電子信號(hào)形成圖像來創(chuàng)建的。由于二次電子是在樣品表面附近產(chǎn)生的，因此二次電子圖像適合觀察樣品上的微小不規(guī)則性。背散射電子是與構(gòu)成樣品的原子碰撞并被反彈回來的電子，背散射電子的數(shù)量取決于樣品的組成（原子序數(shù)、晶體取向等）。因此，背散射電子圖像適合評(píng)估樣品表面的成分分布。

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當(dāng)電子束擊中樣品時(shí)，構(gòu)成其表面的原子被激發(fā)并發(fā)射電子。另外，還會(huì)發(fā)射反射電子和特征X射線，但它們被稱為二次電子，可以通過點(diǎn)掃描所發(fā)射的二次電子的強(qiáng)度來獲得。

我司代理及優(yōu)勢(shì)品牌一覽明細(xì)：

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代理品牌：CCS晰寫速 SEN日森、EYE巖崎、REVOX萊寶克斯、SERIC索萊克

SONIC索尼克、SANKO三高、NEWKON新光、HAYASHI 林時(shí)計(jì)、NPM日脈

NS日本科學(xué)、DRY-CABI東利繁、TOKISANGYO東機(jī)、SIBATA柴田、SUGIYAMA杉山

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優(yōu)勢(shì)品牌：USHIO牛尾、TOPCON拓普康、AITEC艾泰克、FUNATECH船越龍、ORC歐阿西

SAGADEN嵯峨、SAKAZUME坂詰、DNP大日本科研、TOKYO DENSHOKU電色、KKIMAC

S-VANS斯萬斯、ORIHARA折原、LUCEO魯機(jī)歐、HIKARIYA光屋、YAMADA山田光學(xué)

AND艾安得、T&D天特、JIKCO吉高、DKK-TOA東亞電波、OKANO岡野

IMV艾目微、MITUTOYO三豐、KYOWA共和、ONOSOKKI小野、SANEI三榮

HEIDON新東、KURABO倉(cāng)紡、SHOWA昭和、THINKY新基

SURUGA駿河、ACCRETECH東京精密、SANSYO三商、ITOH伊藤

RKC理化、MACOME碼控美、EIWA榮和、EXCEL艾庫(kù)斯、YODOGAWA淀川等

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優(yōu)勢(shì)產(chǎn)品：日本紫外線照度計(jì)、紫外線裝置燈管、LED視覺光源、表面檢查燈、手持檢測(cè)燈

變色燈箱、色差儀、鹵素光源裝置、應(yīng)力表面檢查儀、LED光源機(jī)、電子天平、粘度計(jì)、膜厚計(jì)

恒流泵、采樣泵、PH計(jì)、水分計(jì)、地震測(cè)試儀、脫泡攪拌機(jī)、壓力傳感器、氣體檢測(cè)儀

接近開關(guān)、拉拔機(jī)、異音檢測(cè)儀、下死點(diǎn)檢測(cè)裝置、空氣測(cè)量泵、應(yīng)變測(cè)試儀等

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